4. Felületszer¶ anyaghiba modellek 61
4.3. Repedés és lerakódás együttes v álaszjelének számítása
4.3.3. Az integrálegyenletek egyszer¶sítése
Az integrálegyenletek teljes szétsatolása
Vegyükészre, hogyaz elektromágneses tér(4.46) szerinti felbontásábanaz egyestagok közüla
be-iktatott térjelent®sen nagyobb, mint alerakódás ésa repedés hatására létrejöv® tér-perturbáiók.
Ezen utóbbiakdönt®ena forrásukkörnyezetében (az
S l,illetveaz S c környezetében)
konentrálód-nak. A (4.47) -(4.49) integrálegyenlet jelent®sen egyszer¶södik,ha feltételezhetjük, hogy
Z
köze-lítéssel az egyedülállórepedést leíró integrálegyenletet adja.Ezek megoldásával az el®z®ekben már
foglalkoztunk.AkapotteredményeksegítségévelavizsgáltelrendezésECTválaszjeleazegyedülálló
lerakódás ésaz egyedülálló repedés válaszjeleinekösszegelesz. A gyakorlatban ez a közelítés olyan
esetekben használható, ha a repedés és a lerakódás egymástól aránylag távol helyezkedik el.
Tipi-kusan ez az eset akkor,ha pl. a vizsgáltfémlemez egyik oldalán található a lerakódásésa repedés
a lemez másik oldalából indul ki, de nem nyúlik olyan mélyre, hogy a lerakódáshoz nagyon közel
kerüljön.A tapasztalatalapjánfélbehatolásimélységnyi távolság márnagytávolságnakmondható
ebb®la szempontból.
Az integrálegyenletek részleges szétsatolása
A másik lehetséges egyszer¶sítése az egyenleteknek akkor is alkalmazható, amikor a repedés közel
helyezkedikelalerakódáshoz. Ebbenazestbena(4.54)feltételmárnemigaz(ekkorugyanisa
lera-kódástleírómásodlagosforrásaz
S cfelülethezközelkerül,ígyazáltalakeltettE ~ l (~r)
térintegráljaaz
S c felületremárösszemérhet®abeiktatotttérintegráljával),dea(4.55)egyenl®tlenségmég
tovább-ra is fennállhat. Ez azért lehetséges, mert a lerakódás általában sokkal nagyobb tér-perturbáiót
hoz létre,mint arepedés(lásd a4.13.ábrát, illetvevö.isméta3.5(b).ésa4.10(a).ábrákonlátható
eredményeket).Azilyenesetekbenazintegrálegyenletekmegoldásaannyibanmódosul,hogyels®
lé-pésbenmegoldjukaz egyedülálló lerakódásra vonatkozó integrálegyenletet(tehátmegoldjuk (4.47) ,
(4.48) egyenleteket
E ~ c = 0
ésH ~ c = 0
feltételezésével). Ezt követ®en meghatározzuk a kapottK ~ e
és
K ~ m által gerjesztettelektromos térvektor(
~ ˜
E l) normális komponensét a repedés felületén. Ez jó
közelítésselmegadjaalerakódáshatásáralétrejött tér-perturbáiót arepedésfelületén(E ~ l (~r) · ˆ n c ≈
≈ E ~ ˜ l (~r) · n ˆ c,~r ∈ S c). Végül megoldjuk a (4.49) integrálegyeneletet úgy, hogy abba az E ~ l el®z®leg
E ~ l el®z®leg
megkapott
~ ˜
E l közelítését helyettesíjük. Ez valójában az egyedülálló repedésre vonatkozó integrál-egyenlet megoldását jelenti abban az esetben, amikor az integrálegyenlet gerjesztése a beiktatott
térnekésa lerakódáshatására létrejöv® tér-perturbáió közelítésénekösszege.
A leírt eljárástkövetve a számításokhoz kevés módosítás után használhatók a lerakódásés
a repedésválaszjelénekszimuláiójárakidolgozott, azel®z®ekben bemutatott számításimódszerek.
Azeljárásnagyel®nye,hogyalerakódásraésarepedésrevonatkozó integrálegyenletek egymásután
kerülnekmegoldásra,ígyazismeretlenekszámaazegyesszámításokbantovábbraisalasonymarad.
A közelítésb®l adódó pontatlanság a tapasztalatok szerint igen kisi, ez gyakran összemérhet® a
(4.47) -(4.49)egyenletekelhanyagolásoknélkülimegoldásakorelkövetettafeladatkomplexitásából
fakadó numerikuspontatlansággal.
A repedésre vonatkozó peremfeltételek módosulása
A leírt közelítések alkalmazásával a repedés és a lerakódás egymáshoz viszonyított speiális
elhe-lyezkedése esetén pontatlan eredményre jutunk. A hiba kiküszöböléséhez a repedésre vonatkozó
peremfeltételeket módosítani kell akkor, ha a repedés peremének van olyan, a munkadarab
felü-letén elhelyezked® szakasza, amely részben, vagy teljesen érintkezik azzal a felülettel, amelyhez a
lerakódásilleszkedik.
A hiba oka az, hogy az el®bb tárgyalt mindkét közelítésnél végülis az egyedülálló repedésre
vonatkozó integrálegyenletet oldjuk meg. Ebb®l adódóan mindig olyan konguráiót vizsgálunk,
amikorarepedéspereménekamunkadarabfelületénlév®szakaszán(eztaszakasztszoktákarepedés
szájánaknevezni)ésannakközvetlenkörnyezetébenazörvényáramoknemfolyhatnakamunkadarab
felületéremer®legesen.Ezszemléletesenaztjelenti,hogyazörvényáramoksakarepedéssíkjávalés
amunkadarabfelszínévelpárhuzamosan tudják arepedéstmegkerülni. Ezzelellentétben,a repedés
peremének a munkadarabban lév® szakaszainak közvetlen közelében, az
S c síkonkívüli pontokban
az örvényáramoknak leheta repedéssíkjára mer®legeskomponense is.
Amikorarepedésszája(vagyannakegyszakasza)vezet®anyagbóllév®lerekódássalszennyezett
felületentalálható,akkoraz örvényáramok alerakódásonkeresztülarepedéssíkjáramer®legesen is
folyhatnak,hasonlómódon,mint ahogyan azamunkadarabbanlév®peremesetébentapasztalható.
Ebb®lameggondolásbólkiindulva,arepedéspereménekezenszakaszaina
~ p = pˆ n cdipóluss¶r¶ségre vonatkozóan ugyanazt a peremfeltételt írjuk el®, mint a repedés munkadarabban lév® peremeire.
Így, a lerakódásés repedés együttes ECT válaszjelének a fenti közelítésekkel történ® számításakor
úgy kell megválasztani a
p
dipólus-s¶r¶séget közelít® függvénysor elemeit, hogy azok kielégítsék ap(~r) = 0
feltételtaz~r ∈ l cl görbe mentén, ahol l cl a repedés szájának azon szakasza, amely az S l
S l
felületen (a munkadarabazon felületén, amelyhez alerakódásilleszkedik)van.Természetesen haa
munkadarabfelületeésavezet®lerakódásközöttvalamilyennagyonvékonyszigetel®rétegtalálható
(pl. festék réteg vagy valamely más úton felvitt szigetel® réteg, esetleg nem vezet® szennyez®dés,
stb.) a fenti peremfeltételt nem szabad el®írni, ebben az esetben az egyedülálló repedésre
vonat-kozó megoldásban használtperemfeltételek változatlanulmaradnak. A peremfeltételek leírtmódon
történ® megváltoztatásának szükségességét a zikaiszemléleten alapuló meggondolásokon túla
bemutatandónumerikuspéldák isalátámasztják.
4.3.4. Numerikus példák
Elkészítettem egy számítógépes programot, amellyel kiszámítható a lemez alakú, nem mágneses
munkadarabban lév® repedés és a lemez falán lév®, vékony lerakódás ECT válaszjele. A
számítá-sokhozazel®z®pontbanleírtkétközelít®módszerthasználtam.Azeredményekbemutatásáhozegy
olyanelrendezéstvizsgáltam,amikoralerakódásésarepedésszájaugyanazon,avizsgálófejjel
ellen-tétesoldalonvan.Ezagyakorlat szempontjábóllegérdekesebbelrendezés.Abemutatandópéldában
avizsgálófej,amunkadarabésarepedésparamétereimegegyeznekaz5.tesztfeladat(3.1.táblázata
45.oldalon)paramétereivelazzala különbséggel, hogyavizsgálófejáramánakfrekveniájaaz egyik
esetben
f 1 = 150
kHz, a másik esetben pedigf 2 = 300
kHz.A lerakódás alakja egy20
mmoldal-hosszúságú négyzet, amely középpontja az
y
tengely mentén futó repedésközéppontjával ésazxy
síkorigójávalesikegybe.Alerakódásegyébparaméterei:
µ l = µ 0,σ l = 58,1
MS/mésd l = 0,08
mm.
A4.14.ábrán
f 2 = 300
kHzfrekveniájúgerjesztéseseténösszehasonlítottama különböz® köze-lítésekkelszámítható,∆Z c repedést jellemz® válaszjeleket.Az els® közelít®módszer eredményétaz ábránpontozott vonaljelöli,ezafüggetlenlerakódásésfüggetlenrepedésválaszjeleinek
szuperpozí-iójakéntadódik(ebbenazesetben
∆Z c valójábanafüggetlen repedésjele).Amásodik,szaggatott
vonallaljelölteredménytúgykaptam,hogyelhanyagoltamarepedésvisszahatásátalerakódásjelére
−15 0 −10 −5 0 5 10 15 0.02
0.04 0.06 0.08 0.1 0.12
PSfrag replaements
y [
mm]
| ∆ Z c | [Ω ]
4.14. ábra. ECT vizsgálófejrepedést jellemz® (
∆Z c) válaszjele,avizsgálófej középpontjának
függvényében három különböz® közelítés esetében:független anyaghibák közelítésekor (· · ·
), a
lerakódásrepedésre vett hatásánakgyelembevételével, amikor a lerakódás amunkadarabtól
elektromosan izolált (
− − −
),illetve azzal elektromosan érintkez®()−0.01 0 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05
0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07
PSfragreplaements
ℜ {Z c } [Ω]
ℑ { Z c } [Ω ]
f 1 = 150
kHz,izoláltlerakódásf 2 = 300
kHz,izoláltlerakódásf 1 = 150
kHz,érintkez®lerakódásf 1 = 300
kHz,érintkez®lerakódás4.15. ábra.ECT vizsgálófejrepedéstjellemz® (
∆Z c) válaszjele,amikor avizsgálófejközéppontja az
x = 0
,y = 0
pontban van.Mérésieredmény (◦
), aszámítottközelít® eredmény(×
) ésa [69 ℄irodalomban közölt eredmény(
+
)(4.55) , dea lerakódáshatását a repedésre már azel®z® pontban részletezett módon közelít®leg
gyelembevettem.Ebbenazesetbenaperemfeltételeketnemmódosítottamannakérdekében,hogy
a lerakódásban folyó áramokat a repedés szájánál gyelembe vegyem, tehát ebben az esetben azt
feltételeztem,hogyalerakódáselektromosanizoláltamunkadarabtól.Aharmadikesetben,amelyet
folytonos vonal jelöl az ábrán, az el®z® közelítés mellett még a repedés szájánál a lerakódásban
folyó áramokat is gyelembe vettem, azaz a munkadarabbal elektromosan érintkez®lerakódást
fel-tételeztem. Az ábrából megérthet®, hogy miért is jelent különösen nagykihívást a gyakorlatban a
vizsgált típusúrepedések felderítése. Látható ugyanis,azon túl, hogya lerakódásmiattegy zavaró
válaszjeljelenikmegamérésen,alerakódásjelenlétéb®ladódókölsönhatáskövetkeztébenmagának
a repedésneka jeleissökken,így ennekdetektálása valóbannehézfeladattá válik.
Azel®z®ekbenmárbemutatott4.13.ábránavizsgáltelrendezés
∆Z lcjelétláthatjukolyan
köze-lítésben,amelyben alerakódáshatását arepedésre gyelembevettemésalerakódástelektromosan
érintkez®nek tekintettem. Az ábrán látható válaszjelet a vizsgálófejnek a kérdéses felület feletti
pásztázása soránkaphatjuk.
Azirodalombólsakkétolyaneredménytismerek,amelyekkelazáltalam kapottszámítási
ered-ményeketérdemesösszevetni.Azegyik aJSAEM (lásd a3.2.1. pont)által koordinált mérés.Ittaz
általam is vizsgáltelrendezés esetében, elektromosan izolált és érintkez®lerakódásokrais
megmér-tékavizsgálófejentrálispozíiójábana
∆Z lc ésarepedésnélkülilerakódásesetébenmérhet®∆Z l
jeleket.Ebb®lafentimeggondolásokalapjánközelít®legmeghatározható arepedéstjellemz®jel:
∆Z c ≈ ∆Z lc − ∆Z l. A másik összehasonlításra alkalmas eredményt a [69 ℄ irodalomban közölték, aholvégeselemmódszerrelszámítottákkiarepedésésazelektromosanérintkez®lerakódásegyüttes
válaszjelét. Aközölt görbékb®lleolvasható a
∆Z c repedést jellemz® válaszjel.A 4.15. ábrán a leírt
eredmények láthatók a komplex számsíkon jelölt pontokként. Itt a mért és a vizsgálófej entrális
pozíiójában számított értékek vannak ábrázolva. Látható, hogy az általam bemutatott módszer
jó közelítéssel megadja a mért eredményeket és tendeniájában is jólköveti azokat. Látható az is,
hogy a közelítésekkel kapott eredmény közelebb helyezkedik el a mért értékekhez, mint a
közelí-tések nélkül kapott másik számítási eredmény. Ennek feltehet®leg az az oka, hogy a pontosabb
modell alapján végzett számítások numerikus összetettségéb®l adódó hibája nagyobb az általam
alkalmazott közelítések hibájánál.
Abemutatottpéldák alátámasztják azt,hogyakidolgozott eljárásvalóbanhasználható vékony
lerakódást és repedést tartalmazó munkadarabok ECT válaszjelének szimuláiójára. Nagy el®nye
a módszernek, hogy a számítások gyorsak, így ezek alkalmazhatók pl. vizsgálófej tervezési, vagy
anyaghiba-rekonstrukiós feladatok megoldására is.
4.4. Összegzés
A fejezetben leírt eredményeket az értekezés második tézisében fogalmaztam meg. A téziseket és
azok rövid magyarázatátlásd a6. fejezetben.
A fejezetben összefoglalt eredményeket megjelentet® legjelent®sebb publikáiók a következ®k:
[110 , 111, 112 , 113 , 135℄. A felsorolt publikáiókra kapott ismert független hivatkozások száma:7
(ezekközül SCI-ben jegyzett:4).
A párhuzamos, felületi repedések válaszjelének szimuláiójára kidolgozott módszer egy olyan
az ECT kutatásában feltehet®leg hamarosan nagyobb gyelmet kelt® tématerületet vizsgál,
amelyavalóságban el®fordulóösszetettanyaghibák paramétereinekmeghatározásátélozza. A
szi-muláióseljárásonalapulórekonstrukiós módszerjólhasználhatóapárhuzamosrepedés-soportok
jellemz®inekECT mérések alapján történ® meghatározására. Ez a témakör új lendületet akkor fog
nyerni,amikormajdrendelkezésreállnakismertgeometriájú,összetettanyaghibákECTválaszjelére
vonatkozó mérések.
Akidolgozott módszernek a CIVAprogramsomagba történ® integrálása éljábólelkészítettem
a párhuzamos, felületi repedések válaszjelének szimuláiójára alkalmas modul számításokat végz®
magját. Eza CIVAprogramsomag kísérletiváltozatába beépítésre került,a megvalósítást jelenleg
a CEAmunkatársaitesztelik.
Avizsgálandó munkadarabfelületén található lerakódásválaszjelénekszimuláiójára az
álta-lamkidolgozottmódszerekfelhasználásávalazLGEPkutatóialerakódásanyagánakésalakjának
rekonstrukiójáraalkalmas eljárástdolgoztak ki[88℄. Eza közösmunka alapoztameg a
kutatóso-portunk és az LGEP közötti gyümölsöz® együttm¶ködést. Ezen együttm¶ködés során a nálunk
készültECT fejlesztésekolyan nemzetközi kutatásitémákrészeivé váltak,amelyek megélzott
vég-felhasználóia ronsolásmentes anyagvizsgálatimódszerek ipari alkalmazói.
Azösszetettanyaghibákatvizsgálókutatásokegyikgyakorlatieredményekéntegyszer¶módszert
dolgoztunk ki fémtárgyakba írt vonalkód ECT mérés segítségével történ® kiolvasásához[136, 137 ℄.
Azeljáráskészenállarra,hogyalkalmaznilehessenaGVOP-AKF(Gazdaságiversenyképesség
ope-ratívprogram,Alkalmazottkutatás-fejlesztés)pályázatkeretébenkidolgozottkiolvasórendszerben,
amely az autóiparhoz kapsolódóan lézerrel a karosszéria-elemekbe égetett kódokkal
hatéko-nyabbáteszi alogisztikát ésavagyonvédelmet.
Anyaghiba rekonstrukióra használható
optimális adatbázis
A kvantitatívECT egyiklegfontosabbélja:olyanmérési eljárásokésinverziósalgoritmusok
kidol-gozása, amelyek segítségével meg lehet határozni a detektált anyaghibák paramétereit. A 3. és 4.
fejezetekben tárgyalt eredményekugyana direktprobléma (adott konguráió esetébena válaszjel
szimuláiója) megoldását élozzák,ezenmódszereknekmégiséppen azinverzprobléma (anyaghiba
rekonstrukiója,azazadottmérési eredményheztartozó anyaghiba paramétereinekmeghatározása)
megoldása szempontjából van nagy jelent®ségük. Az el®z®ekben tárgyalt szimuláiós eljárásokban
közös, hogy azok rövid id® alatt képesek aránylag pontos megoldását adni a direkt problémának,
így ezek jólhasználhatókaz anyaghiba-rekonstrukiós problémák megoldásakor.
Az ECT inverz problémáinak megoldása leggyakrabban a direkt probléma többszöri akár
néhányezerszertörtén® megoldásánalapul.Ígyvanez pl.akkor,amikoraz inverzprobléma
ered-ményétoptimalizáiósfeladat megoldásaként keressük,ekkor ugyanisaz anyaghibaparamétereinek
értékeitváltoztatjukegyoptimalizáióseljárássegítségévelúgy,hogyazanyaghibaszámított
válasz-jelealegjobbanhasonlítsonamértválaszjelre.Hasonlóan,sokdirektproblémamegoldásánkeresztül
kaphatjukmegamegoldásátazinverzproblémának,haneurálishálózatothasználunkazanyaghiba
rekonstrukiójára. Ekkor a szimuláió a neurálishálózat betanításához szintenélkülözhetetlen.
Az ECT mérésen alapuló anyaghiba-rekonstrukióhoz el®nyösen használhatók olyan
adatbázi-sok,amelyekdirektproblémákmegoldásakéntkapottválaszjelekettartalmaznak.Ebbenafejezetben
bemutatom aztazeljárást,amelyetolyanadatbázisokel®állításáradolgoztamki,amelyek bizonyos
értelembeoptimálisnak tekinthet®k. Atárgyalásrakerül®módszer egy,azECT irodalmában eddig
ismeretlen megközelítését jelenti a kapsolódó inverz problémák kezelésének. Az optimális
adat-bázisok a rekonstrukiós feladatok megoldásán túl sokrét¶en használhatók még arra is, hogy
vizsgálatukáltalhasznos informáiókat nyerjünk a kit¶zöttinverz problémávalésannakmegoldási
korlátaivalkapsolatban.
A továbbiakben el®ször az optimális adatbázisalapgondolatát ésel®állításának módját
tárgya-lom.Eztkövet®en egykonkrétmintapéldánkeresztül illusztrálomazoptimálisadatbázisfelépítését
éstárgyalom annakinverz problémamegoldására történ® alkalmazását. Szólesz mégarról is, hogy
milyen informáió nyerhet® az inverz problémáról az adatbázis birtokában. A leírt eredményeket
az értekezés harmadik téziseként (lásd 6. fezetet) fogalmaztam meg. A fejezet lezárásaként
rövi-den megemlítemazokat azeredményeket,amelyeketaz optimálisadatbázisfelhasználásávalértünk
el különböz® nem feltétlenül az ECT témaköréhez tartozó inverz problémák megoldása terén.
Ezen alkalmazásokatnem tekintema tézisrészének,mivelezeketkollégáimmalésmás intézetekkel
együttm¶ködve valósítottuk meg.
5.1. Az optimális adatbázis
Ebben az alfejezetben az optimális adatbázis fogalmának magyarázata után egy eljárást
tárgya-lok, amely segítségével azt el® lehet állítani. Az adatbázis létrehozása egy általános
n
-dimenziós,88 5. Anyaghiba rekonstrukióra használhatóoptimális adatbázis
Avizsgáltelrendezés:
geometria,anyagiparaméterek.
Paraméter-tér
(
U : {u}
,n
-dimenzióstér):azanyaghibaleírása
n
paraméterrel.Kiválasztottanyaghibaprototípusok:
pontokaz
n
-dimenziósparaméter-térben.n
-dimenzióshálóAvizsgálófejpásztázásasoránmért
ECTválaszjel.
Válaszjel-tér
(
V : {v}
,m
-dimenzióstér):aválaszjelhelyfüggvényének
m
mintavételipontja.Akiválasztottanyaghibaprototípusok
válaszjeleiamintavételipontokban:
pontokaz
m
-dimenziósválaszjel-térben.n
-dimenziósdiszkretizáltfelület azm
-dimenzióstérbenECTmérés
Direktprobléma
v = G{u}
Inverzprobléma
Inverzprobléma
Visszakereshet®
hozzárendelés
Adatbázis
Azanyaghibaparametrizálása Mintavételezés
Adaptívhálógenerálás
5.1. ábra. AzECT direkt ésinverzproblémáinak közelítéseadatbázis segítségével
adaptív hálógeneráló eljárás alkalmazásával történik. A felhasznált hálógeneráló algoritmust
Gyi-móthy Szabols kollégám fejlesztetteki el®z®legmás élokra[130 ℄.Az 5.1. ésaz5.2. alfejezetekben
bemutatott eredményeket a [129 ℄ irodalomban publikáltuk. Aikkben közöltek a példaként
bemu-tatottadatbázisokténylegesel®állításán kívülazéneredményeimnektekinthet®k.Azadatbázisokat
Gyimóthy Szabols generálta az általam írt,a direkt probléma megoldására használható program
(ennekelméletéta3.fejezetbentárgyaltam)ésaz®általaírthálógenerálóeljárásösszekapsolásával.
5.1.1. Az inverz probléma diszkretizálása
Az ECT vizsgálatokhoz kapsolódó direkt- és inverz problémák magyarázatát, valamint az
anyag-hibarekonstrukiójánakegylehetségesdiszkretizáiójátaz5.1. ábraszemlélteti.Avalóságosmérési
elrendezés és az ECT vizsgálat során kapott válaszjel között a mérés teremt kapsolatot. A mért
válaszjel szimulálható, ha a valóságos elrendezést valamely matematikai modell segítségével
leír-juk. Ekkor az egyes, modellezett elemeket(vizsgálófej,munkadarab, anyaghiba, stb.) geometriaiés
anyagjellemz® paraméterekkelírjuk le.Eparaméterekközülkülönösjelent®séggelbírazaz
n
számúparaméter, amely az anyaghiba leírására szolgál, mivel az anyaghiba-rekonstrukiós folyamatban
ezek értékétkeressük úgy, hogyaz elrendezés többiparaméterét (a vizsgálófej, a munkadarab, stb.
paramétereit) ismertnektekintjük. Az anyaghiba
n
paramétere kifeszítenekegyn
-dimenziós teret,ezt paraméter-térnek fogjuknevezni a továbbiakban. Az ECT mérés során a vizsgálófejet
megha-tározottmódonmozgatják amunkadarabfelett. Epásztázásalkalmávalvehetjük fela válaszjelnek
a vizsgálófej pozíiójától függ® helyfüggvényét. A fej
m
darab ismert pozíiójában (az ún. mérési pontokban) mintavételezzük eztaválaszjel helyfüggvényt. Azm
mérési pontban felvettválaszjelek egym
-dimenzióstér pontjainaktekinthet®k, ezta tereta válaszjel-térnek nevezünk.Amikor egy adott mérést szimulálunk, akkor a direkt probléma megoldásaként, a
paraméter-térb®leljutunkaválaszjel-térbe.Az inverzproblémaaválaszjel-térb®laparaméter-térbevaló
leké-pezést jelenti. Ennéláltalánosabban úgyis értelmezhet® az inverz probléma, hogy az a mért ECT
válaszjelb®l az anyaghiba meghatározását jelenti (ebben az értelemben az inverz probléma része
máramegfelel® anyaghibaparaméterekdeniálásais).Azinverzproblémamegoldásáranemállnak
rendelkezésünkre olyanjelleg¶módszerek,mint amilyenekadirektproblémamegoldására ismertek.
Többekközött azért sem állhatrendelkezésünkre ilyen, mert az inverz probléma többnyire nem is
oldható megegyértelm¶en.
Adiszkretizált paraméter- ésválaszjel-terek közöttegy visszakereshet® hozzárendeléstlehet
te-remteni,azáltalhogylétrehozunkegyadatbázist,amelybenadottparaméterrelrendelkez®
anyaghi-bákmérésipontokbeliválaszjeleittároltuk.Ilyenadatbázistlegegyszer¶bbenszimuláiósegítségével
lehet megalkotni, de elképzelhet® olyan módszer is, amikor ismert anyaghibákkal rendelkez®
mun-kadarabokon végzett valóságos ECT mérések alkotják az adatbázis elemeit. Bárhogyan is hozzuk
aztlétre, azadatbázisaz
n
-dimenziósparaméter-tér pontjait képezileazm
-dimenziós válaszjel-térn
-dimenziós alterének pontjaiba(alappal feltételezzük,hogyn < m
).A kulskérdés az adatbázis létrehozásánál az, miként lehet azt úgy megalkotni, hogy annak
felhasználásával az inverz problémát a kívánalmaknak megfelel®en meg lehessen oldani. Másként
megfogalmazva, a kérdés az, milyen paraméterekkel rendelkez® anyaghiba prototípusok alkossák
az adatbázist. A él az, hogy minél kevesebb számú prototípussal minél pontosabb
anyaghiba-rekonstrukiót lehessen végrehajtani.
5.1.2. Az optimális adatbázis megalkotása
Jelölje az
U
paraméter-tér egy pontjátu = { u 1 , u 2 , . . . , u n }
és legyenv = { v 1 , v 2 , . . . , v m }
aV
válaszjel-térének azonpontja,amelyaz
u
paraméterekkelrendelkez®anyaghibáhoztartozik.u i (i =
= 1,2, . . . , n
) az anyaghiba paraméterei,v i (i = 1,2, . . . , m
) pedig a válaszjel mérési pontokbeli
értékei. Adirektproblémamegoldását jelöljüka
G{·}
operátorral.Ezekalapjánaparaméter-térb®l a válaszjel-térbe történ® leképezésa következ®:v = G{ u } , u ∈ U , v ∈ V .
(5.1)Értelmezzük továbbáa válaszjel-térben lév®
v 1 ésv 2 pontokközöttitávolságot amérésipontokban
lév®válaszjelekkülönbségénekeuklideszinormájaként:
k v 1 − v 2 k
.Ezentávolságlehetpl.amegfelel®mérési pontokba vettválaszjelekkülönbségének négyzetes összege,
k v 1 − v 2 k = v u u t
m
X
i=1
v 1 i − v 2 i
2 , (5.2)
de anégyzetes normán kívül másnormában is értelmezhet®kétponttávolsága a válaszjel-térben.
A jó adatbázis olyan, hogy annak pontjai kifeszítik a lehetséges anyaghiba paraméterek terét
úgy,hogyamegkülönböztethet®mérésieredményekhezmás-másparaméterrelrendelkez®anyaghiba
tartozzon. Méréssel két anyaghiba akkor különböztethet® meg, ha az azokhoz tartozó válaszjelek
távolsága nagyobba mérésnél várhatóhibánál, tehát
v 1 ésv 2 megkülönböztethet®, ha
k v 1 − v 2 k > ̺,
(5.3)ahol
̺
amérésvárhatózajátjelenti.Enneknagyságaáltalábanamérésismeretébenmegbesülhet®.Elképzelhet®,hogyamérészajanemadhatómegegyszer¶enanégyzetesnormával,mivelazpl.függ
a válaszjel nagyságától, esetleg a mérési pont helyét®l, stb. Az ilyen jelleg¶ zajokat is gyelembe
lehet venni, ha a távolságot a méréshez illeszked® módon deniáljuk (pl. mérési ponttól, válaszjel
nagyságtól, stb. függ®en). Számunkra az a lényeges, hogyfeltételezzük: hogymeg lehet adniazt a
küszöböt,amelyfelettkétmértjeletegymástólbiztonsággalmeglehetkülönböztetni.Eztaküszöböt
fogjukezek után leegyszer¶sítve amérés zajának nevezni.
A mérési zajt igen rugalmasan lehet megfogalmazni azáltal, hogy a válaszjel-térben a távolság
deníiójátszabadon megadhatjukakülönböz® alkalmazásokkívánalmainakmegfelel®en.A mérési
deníiójátszabadon megadhatjukakülönböz® alkalmazásokkívánalmainakmegfelel®en.A mérési