2. Az értekezésben felhasznált összefüggések 19
2.3. Adott áramdipólus-s¶r¶ség elektromágneses tere
2.3.4. F elületi áramdipólus-s¶r¶ség tere
Azértekezéskés®bbirészeibenazel®z®ekbenbemutatott eredményeketafelületszer¶repedés(2.29)
integrálegyenletének megoldásához ishasználni fogom. Ennek érdekében tekintsük azt akés®bbiek
szempontjábólfontosesetet,amikor azelektromágneses térforrásaalemezenbelülaz
x = 0
síkbanelhelyezked®felületiáramdipólus-s¶r¶ség,amelysak
x ˆ
irányúáramdipólusokbóláll.Legyenateret gerjeszt®áramdipólus-s¶r¶séga következ®alakban felírható:P ~ (x, y, z) = p y (y)p z (z)δ(x)ˆ x.
(2.95)A kés®bbiekben az
x ˆ
irányú elektromos tér Fourier-transzformáltjának kifejezése lesz érdekes szá-munkra a− d < z < 0
tartományban. Ez (2.93) felhasználásávalfelírható:E x (α, β, z) = X
adott felületi áramdipólus-s¶r¶ség gerjesztés hatására kialakuló elektromágneses tér többi
kompo-nenseis.
A(2.96)kifejezésegyolyanelektromos térFourier-transzformáltja,amelyvégtelennéválikazon
a felületen, ahol a felületi áramdipólus-s¶r¶ség nem zérus (az
x = 0
sík azon pontjaiban, aholp y (y)p z (z) 6 = 0
). Az ilyen szinguláris pontok helyett ezen pontok közvetlen környezetében lév®pontok térer®sség értékeit kell majd használnunk, pontosabban megfogalmazva, a továbbiakban
ezenpontok helyetta
x→±0 lim E x (x, y, z) = lim
x→+0 E x (x, y, z) = lim
x→−0 E x (x, y, z) (2.97)
határértéket számítjukki.Ezen határérték megkapható akövetkez®képlet kiértékelésével[153 ℄:
x→±0 lim E x (x, y, z) =
E x (x, y, z) + 1
σ p y (y)p z (z)δ(x)
x=0
=
= F xy −1
E x (α, β, z) + 1
2πσ p y (β)p z (z)
x=0
,
(2.98)ahol
E x (α, β, z)
a(2.96) kifejezésseladott. Ahatárérték fentimódon történ® kiszámításaösszefügg a (2.29)integrálegyenlet szingulárisintegráljának Hadamardfélevégesrész[45 ℄gyelembevételéveltörtén® kiértékelésével [46,152 ℄.
A felületszer¶ repedés válaszjelének
szimuláiója
Ebben a fejezetben a felületszer¶ repedés válaszjelének számításához kapsolódó kutató-fejleszt®
munkám eredményeit foglalom össze. Ezeket az eredményeket az értekezés els® tézisében (lásd 6.
fezetet) fogalmaztammeg.
Els®ként aztaszámítási módszert tárgyalom, amelyegy nemmágneses,lemezalakú
munkada-rabban elhelyezked®, a lemez felületére mer®leges síkban lév®, téglalap alakú, felületszer¶ repedés
analízisére dolgoztam ki.A módszeralapján írtprogram eredményeivel demonstrálom, hogyaz
al-kalmazott eljárás nagyon gyors, hibája kell®en kisi és numerikusan stabilis, valamint azt is, hogy
a számítások soránlehet®ség vana megoldáshibájánakbeslésére.
A fejezet további részében vázolom azt a moduláris számítási környezetet, melynek
segítsé-gévelkülönböz® általánosan alkalmazott számítási módszert lehetösszekapsolniannakérdekében,
hogyhatékonyabbanlehessenegyesörvényáramúanyagvizsgálatiproblémákatszimulálni.Amódszer
megvalósításakéntbemutatomaztaszoftvert,amelyneksegítségévellemezalakúmunkadarabokban
lév® felületszer¶repedésekválaszjelétlehet számítani. Eza megvalósításvégeselem módszert
hasz-nál az örvényáramú fej terének számítására,és az integrálegyenleten alapuló módszert használja a
felületszer¶ repedésvisszahatásának szimuláiójára. A említettrendszertaz LGEP munkatársaival
együttm¶ködve valósítottam meg.
A fejezetben bemutatott számítási eljárások felhasználásával részt vettem az MTA-MFA-ban
megvalósított Fluxet típusú, örvényáramú mér®fej fejlesztésében. Ennek során egy módszert
dol-goztam ki,amely segítségével mágneses szenzorok örvényáramú mérésekhez alkalmaskalibráióját
lehet végrehajtani. A fejezetvégénrövidenezt akalibráiósmódszert mutatom be.
3.1. A felületszer¶ repedést leíró integrálegyenlet megoldása
Bemutatom azt a számítási módszert, amellyel meghatározható a 3.1. ábrán vázolt ECT mérés
válaszjele. A vizsgált munkadarab egy
d
vastagságú végtelen kiterjedés¶ lemez. A lemez anyaga homogén, nem mágneses (µ = µ 0,a vákuum permeabilitása) anyag, amelynek vezet®képessége σ
.
Az anyaghiba egy nagyon vékony,
b
hosszúságú ésa
mélység¶, téglalap alakú repedés, amelyet azx = 0
síkbanazS c felületírle. A 3.1. ábránlátható elrendezésben avizsgálófej egytekers,amely
szinuszosan változó ω
körfrekveniájú árammal van táplálva és amelynek impedania-változását
tekintjükazanyaghibaválaszjelének.Amódszera2.2.2.pontbanleírtakfelhasználásávalalkalmasaz
ábránvázoltnálsokkalbonyolultabb,szinuszosárammaltáplált, tetsz®legesgeometriájúvizsgálófej
ECT válaszjelének szimuláiójára is. A bemutatásra kerül® számítási eljárást a [106 ℄ irodalomban
tettem közzé.
38 3.Afelületszer¶ repedésválaszjelének szimuláiója
3.1.ábra. ECT vizsgálófejegy felületszer¶repedést tartalmazó lemezfelett
3.1.1. Az integrálegyenlet alakja az adott geometriánál
A repedés válaszjelét a felületszer¶ repedésekre vonatkozó integrálegyenlet (2.29) (lásd még a 2.2.
alfejezetet)megoldásávalhatározommeg.Ez azintegrálegyenlet azadottelrendezésrevonatkozóan
a következ® alakú: Green-diád (2.11) megfelel® eleme,valamint
y, z, y ′ , z ′ ∈ S c.p(y, z)
arepedést reprezentálófelületi
áramdipólus-s¶r¶ség x
-irányúrendez®jeésE x i (x, y, z)
a beiktatottelektromos térer®sség(a tekers
árama általahibamentes lemezbe indukált elektromostér)
x
-irányúrendez®je.3.1.2. Az integrálegyenlet diszkretizálása
Keressüka (3.1) megoldását akövetkez®függvénysoralakjában
p(y, z) ≈
ahol
f y m (y)
,f z n (z)
azS c felületen értelmezett élszer¶en megválasztott függvények. Az
integrál-egyenlet numerikusmegoldása soránhatározzuk megaz ismeretlen p mn együtthatókat.
Afentiközelítés melletta (3.1) integrálegyenlet a következ®alakú lesz:
M
élszer¶enmegválasztottvalósérték¶függvényekkelteszteljük.Eredményülakövetkez®
K · L
egyen-letb®l állólineáris algebraiegyenletrendszerre jutunk:
M
Ezen egyenletrendszert mátrixosalakban felírva:
A p = b,
(3.5)egyenletetkapjuk,ahol amátrix ésa vektorok elemeia következ®k:
A
(k−1)L+l,(m−1)N +n =
= Z Z
S c
jωµ 0 lim
x→±0
Z Z
S c
g(x, y, z | x ′ = 0, y ′ , z ′ )f y m (y ′ )f z n (z ′ ) dy ′ dz ′
t kl (y, z) dydz,
(3.6)p
(m−1)N+n = p mn , (3.7)
(b) (k−1)L+l = Z Z
S c
E x i (x = 0, y, z)t kl (y, z) dydz.
(3.8)A
b
oszlopvektorelemeiaz irodalombólismertvalamilyen módszersegítségévelmeghatározható (lásd az 1.4.1. pontot). Ez a tekersben folyó áram által az anyaghiba nélküli lemezben gerjesztettelektromos tér
x
-irányú rendez®jének meghatározását jelenti azS c felületen. Mivel ez a
térszámí-tási problémanem jelent különösebb nehézséget, ezért ezzel nem foglalkozunk részletesen.Gondot
a tér szingularitása miatt az
A
mátrix elemeinek (3.6) kiszámítására szolgáló képlet numerikus kiértékelésejelent, ezérta továbbiakban ezenproblémára konentrálunk.A(3.5)egyenlet megoldásávalmegkaphatóka
p mnegyütthatók,amelyeksegítségévelfelírhatóa
p(y, z)
felületi áramdipólus-s¶r¶séget közelít® függvény (3.2) . Ha a közelít® éstesztel® függvények száma megegyezik, azaz haN · M = K · L
, akkor az egyenlet egyértelm¶en megoldható. Ez a választás a szokásos,de az egyenlet bizonyos értelemben vett optimálismegoldását meglehet adniakkor is, amikor az túlhatározott(
N · M < K · L
) vagy alulhatározott (N · M > K · L
).3.1.3. A Közelít® és a tesztel® függvények megválasztása
A 3.1. ábránlátható elrendezésben négyféletípusú repedéselhelyezkedést különböztethetünk meg.
Ezek a 3.2. ábrán láthatók (mindegyik repedés vastagsága
x
-irányú mérete elhanyagolható).Azt a repedést, amelya lemez fels® oldalávalérintkezik bels® repedésnek hívják, ennek rövidítése:
ID. A rövidítés az angolinner defet kifejezésb®ladódik, amiazt fejeziki, hogya repedésa lemez
azon bels®oldalántalálható,aholavizsgálófejiselhelyezkedik.Amásikrepedéstípust,amelyik
a lemez alsó részéhez satlakozik, küls® repedésnek nevezik, ennek rövidítése: OD, az angol outer
defet kifejezésb®l. Megkülönböztetik még a eltemetett repedésnek nevezett típust, amely repedés
mindegyikoldala alemezbelsejébentalálható, ésazátmen® repedést,amelyalemezteljes
kereszt-metszetén áthatol, így alemezmindkét felszínévelérintkezik. Az egyesrepedésekmeghatározására
szolgáló paraméterekjelentése leolvashatóa 3.2. ábráról.
Afelületi áramdipólus-s¶r¶ségleírásáraolyanközelít® függvényekethasználok,amelyek tartója
azegész
S c felület, azaz− b/2 ≤ y ≤ b/2
és− q − a ≤ z ≤ − q
(átmen®ésIDrepedéseknél q = 0
,OD
repedésre pedig
q = d − a
),ezena felületenkívül értéküknulla.Azilyen tulajdonsággalrendelkez®közelít®függvényeketglobálisközelít®függvényeknekhívják.Továbbijellemz®jeaválasztott
közelí-t® függvényeknekaz,hogyazok egyeséveliskielégítik azáramdipólus-s¶r¶ség
x
-irányúrendez®jére (p
) vonatkozó peremfeltételeket (2.26) , (2.27) , ami az adott esetben azt jelenti, hogy a következ®feltételeket kell kielégíteni:
f y m (y = − b/2) = f y m (y = b/2) = 0
,(m = 1,2, . . . , M
), valamint IDre-pedésre:
f z n ( − a) = 0
és∂f ∂z z n
z=0 = 0
,OD repedésre:f z n ( − d + a) = 0
és∂f ∂z z n
z=−d = 0
,eltemetettrepedésre:
f z n ( − q) = f z n ( − q − a) = 0
,átmen® repedésre:∂f ∂z z n
z=0, z=−d = 0
,(n = 1,2, . . . , N
).A
p(y, z)
közelítéséttrigonometrikuspolinomalakjábankeresem,ígyaleírtmeggondolások alap-jána(3.2)egyenletbenszerepl®függvényeketakülönböz®típusúrepedésekesetébenakövetkez®knekválasztottam.
y
3.2. ábra. Akülönböz® típusúrepedések ésazokleírásáraszolgáló paraméterek jelentése
Mindenrepedéstípusnál(
− 2 b < y < 2 b),
Tesztel®függvényeknek akövetkez®, az
S c felületet lefed®,egymásbanemátlapolódó,impulzus függvényeket használom: biztosítható, hogy a tesztel® függvényekszáma megegyezzen aközelít®függvények számával, ígya
diszkretizáltintegrálegyenlet
A
együtthatómátrixaM · N
sorbólésoszlopbólállókvadratikusmátrix lesz.3.1.4. Az együtthatómártix elemeinek kiszámítása
A
A
mátrix elemeinekkiszámításához induljunkkia2.3.4.pontban leírtakból.Ezekalapján(2.96) és(2.98)segítségévelfelírhatóazmn
index¶közelít®függvény,mintforrás(p y = f y m,p z = f z n)által
gerjesztett
E x mn (x, y, z)
elektromos térer®sségazx = ± 0
síkokban (mivelE x mn (x, y, z) x
-ben párosfüggvény, ennek értékei az
x = +0
és azx = − 0
síkokban megegyeznek egymással) a következ®formában:
f y m (y)
.Látható,hogyazalkalmazottf z nközelít®függvények(3.10) -(3.13)esetében
a z ′ változó szerinti integrálanalitikusan kiértékelhet®.
Az
A
együtthatómátrix elemei a tesztel®függvényekkel szorzottelektromos térer®sség integrál-jaként kaphatók meg:Amennyiben (3.19) kifejezésbenfelseréljük az inverz Fourier-transzformáiót ésa
z
szerintiinteg-rálást, akkor akövetkez®kifejezésre jutunk:
A
A (3.18) egyenletb®l látszik, hogy a felhasznált közelít® és tesztel® függvények esetében az inverz
transzformálandó függvény,
sak az
α
ésβ
független változóktól függ és zárt alakban el®állítható. Mindez annak köszönhet®, hogyaz ′ ésaz
szerintiintegrálokanalitikusankiértékelhet®k. NumerikusansakazinverzF
ourier-transzformáiótés eztkövet®en azy
szerintiintegrálást kell elvégezni.
Sokmáslehetségesközelít®függvényesetében iskiértékelhet® a(3.21)integrálanalitikusan,így
a bemutatott módszer egyéb,alkalmasanválasztott függvényekeseteibenis használható.
3.1.5. A szakaszonként lineáris közelítés használata
A globális közelít® függvények alkalmazását megel®z®en a 2.3. szakaszban leírt módszer
felhasz-nálásával, megoldottam afelületszer¶ repedésre vonatkozó (2.29) integrálegyenletet lokálisközelít®
függvényekkelis.Eztamegoldásta[105 ℄irodalombanközöltem.Akés®bbiekbenbemutatásrakerül®
numerikus példák némelyikénél leggyakrabban összehasonlítás éljából ezeket az eredményeket
isbefogommutatni.Azemlítettmegoldástszakaszonként lineárisközelítéssel kapottmegoldásként
fogom hivatkozni. Ezen megoldásnál a
p(y, z)
függvény (3.2) közelítésében a közelít® függvényeka következ®k:Tesztel® függvényként a területre normált közelít®függvényeket alkalmaztam, ezekalapján:
t kl (y, z) = 1
Látható, hogy a (3.22) -(3.31) közelít® és tesztel® függvények esetében is kiértékelhet®k a
z
ész ′ szerinti integrálok analitikusan, tehát az A
együttható-mátrix elemeire kapott (3.20) formula
nem lesz elvileg bonyolultabb. A különbség abban áll, hogy az elektromos térer®sséget közelít®
függvénysortagjainak a spektrális éstérbeli viselkedésekedvez®tlenebb lesz aglobális közelítéshez
képest(térbengyorsanváltozók,spektrálisanpedignagysávhatárúaklesznekaközelít®függvények)
ésnagyobbszámúközelít®függvényszükségesazonospontosságeléréséhez.Atapasztalatokalapján
a szakaszonként lineáris közelítés alkalmazásával nagyobb odagyeléssel és hosszabb számítással
kapható hasonlóan pontos közelítés, mint a globális közelítéssel. Ezen felül a megoldás hibájának
besléseis sokkalnehezebba szakaszonként lineárisközelítés használatakor.
3.1.6. A globális közelítésen alapuló megoldás értékelése
Felületszer¶ repedéseknek a (2.29) integrálegyenlet megoldására támaszkodó analíziséhez az
iro-dalomban eddig olyan megoldásokat közöltek, amelyekben az ismeretlent impulzus függvényekkel
közelítették [46℄, illetve én közöltem a már említett megoldást szakaszonként lineáris közelítés
fel-használásával[105℄.Ezekbenamegoldásokbanaközelít®függvényektartójaegy-egykisinytéglány
az
S c felületen. Ebb®ladódóanazegyessorfejt®tagokhoztartozóE x mn (y, z)
függvénynagyon
mere-dekenváltozó,numerikusannehezenkezelhet®függvény.Abemutatottmódszerbenhasználtglobális
közelít® függvények el®nyei az el®z®ekkel szemben az,hogy:(i)
E x mn (y, z)
egy aránylag símánvál-tozó függvény, amelynek mind a spektrális,mind a térbeli tulajdonságai kedvez®ek, (ii) a közelít®
függvények egyesével iskielégítik az
S c peremén el®írt peremfeltételeket, így a közelítés a peremen
pontos, és (iii) a p(y, z )
függvény aránylag kevés taggal (kis N
és M
) is jól közelíthet®. További
el®nyeaközölt megoldásnak,hogy(iv)segítségéveltöbbnyirebesülhet® azECTválaszjelrekapott
megoldás hibája is. Hasonlóhibabeslés alokálisfüggvényekkel valósorfejtésesetében nemismert.
Összességében megállapíthatjuk, hogy a közelít® függvények megválasztásából adódó kedvez®
tulajdonságoknak köszönhet®en a (3.20) együtthatók kiszámítása gyors ésnumerikusan stabilis(a
közelít® függvények kedvez®térbeli ésspektrális viselkedése és asorfejtés konvergeniájának
gyor-sasága okán), a tér szingularitásából adódó problémák megsz¶nnek (a
z
ész ′ szerinti integrálok
analitikusan történ® kiértékelésével), valamint mód nyílik a számítás hibájának egyszer¶
beslé-sére is (mivel a hibabeslés menete szigorúan véve nem része az értekezés téziseinek, ezért azt az
F.1.függelékbenrészletezem).Afelsorolttulajdonságokalapjánaközöltmegoldásimódszernagyon
el®nyösenalkalmazhatóakereskedelmiforgalombakerül®számításokban.Ezegyrésztamegoldás
fel-sorolt,kedvez®tulajdonságaimiatttehet®meg,másrésztpedigazért,mertahibabeslésrealapozva
egymegfelel® algoritmus alapján mód nyílik azintegrálegyenlet automatikus diszkretizálására.
Adiszkretizált integrálegyenlet (3.5)együtthatómátrixának kiszámításárabemutatott módszer
a közelít® függvények széles osztályára alkalmazható, így elképzelhet®, hogy egy másik
alkalma-san választott sorfejtésen alapuló diszkretizáió esetében is hasonlóan kedvez® tulajdonságokkal
rendelkez® megoldást kapunk.
A közölt megoldás alkalmazhatóságának látszólag jelent®s megkötése az, hogy az sak téglalap
alakú repedések analízisére alkalmas, mivel a (3.9) -(3.13) közelít® függvények sak téglalap alakú
repedések esetében alkalmazhatók. Ez a megkötés a legtöbb esetben, a gyakorlati felhasználásban
nemjelenthátrányt, mivelafelhasználókdönt®enilyenrepedéseketfeltételeznek. Alapvet®en azért
vanezígy,mertakeresettrepedésekméretenagyonkisiésaélerepedésekközelít®kiterjedésének
(felületéneknagyságának)meghatározása.Ezekalapjánagyakorlatbanelegend® azanyaghibajelét
egy meghatározott alakú a valódi alakot aránylag jól közelít® ekvivalens anyaghiba jelével
összevetni.Eélbólatéglalapalakúrepedésalkalmazásakielégít®szintemindengyakorlatiesetben.
Ezt támasztjaaláazatényis,hogyazECTberendezésekkalibrálásárahasználtmintákazesetek
dönt® hányadában téglalap alakú EDM repedésekettartalmaznak.
Abemutatott módszer valószín¶legkiterjeszthet® annakkedvez®tulajdonságainak
megtartá-sa mellett nem téglalap alakú repedésekre is. Megjegyzem, hogy nem téglalap alakú repedések
analízisekülönösebb gondnélkülmegtehet® lokálissorfejtésenalapuló,az irodalombólismert
mód-szerekkel, így megtehet® az általam kifejlesztett [105℄, a 3.1.5. pontban részletesebben is körülírt
módszerrel is. A globális sorfejtésen alapuló módszerek nem téglalap alakú repedések analízisére
történ® kiterjesztésének kétlehetségesútját vázolom. Az egyik az,hogymegpróbálunk olyan
függ-vénysort keresni, amelynek segítségével adott, egyszer¶ geometriájú (pl. félkör vagy fél-ellipszis)
repedésekesetében sorbafejthet® azáramdipólus-s¶r¶ség függvényúgy,hogy aközelít® függvények
egyesével is kielégítik a peremfeltételeket. A másik út az, hogy olyan globális függvényekkel
fejt-jük sorba az áramdipólus-s¶r¶séget, amelyek nem elégítik ki a peremfeltételeket (ez megtehet®,
hiszen az integrálegyenlet megoldása automatikusan kielégíti a peremfeltételeket, tehát ezt külön
nem szükséges el®írni [65 ℄). Ilyen sorfejtést feltételezhet®en bonyolultabb geometriájú
repedések-re is lehet találni. Ennek a megoldásnak a téglalap alakú repedésekre való alkalmazásának az a
hátránya,hogy feltételezhet®en nagyobbszámú közelít®függvényre lenne szükségesaz elfogadható
pontosságúmegoldásmegtalálásához, mint amennyi aperemfeltételeketpontosankielégít® közelít®
függvények választása esetében kellene. A megoldási módszer vázolt kiterjesztési módjaival a fenti
ötletekmegfogalmazásántúlnemfoglalkoztam,mivelerreagyakorlatirányábólazeddigiekbennem
volt igény.
A bemutatott módszer egy továbbfejlesztett változatával olyan repedések is analizálhatók
len-nének, amelyek síkjanem mer®leges a munkadarab felületére. Ilyen esetben sak annyi a változás,
hogy annak érdekében, hogy a repedés peremének a munkadarab felületével érintkez® részén
megváltozott peremfeltételt kielégíthessük olyan közelít® függvényeket kell választani,
amelyek-kel tetsz®leges peremfeltételek kielégíthet®k a repedés peremének e szakaszán. Természetesen az
integrálegyenlet magja is értelemszer¶en változik a repedés felületi normálisának megváltozásával
(vö. (2.29) ). Az ilyen típusú repedések analízisének gyakorlati jelent®sége azért nem nagy, mert
anyagszerkezeti okokra visszavezethet®en a repedések általában a munkadarab felületére
közelí-t®leg mer®leges síkban alakulnak ki, ezek hatását pedig jó közelítéssel vizsgálhatjuk az általunk
analizált elrendezéssel.
Végezetül meg kell említeni azt, hogy a felületszer¶ repedés modellje alkalmazható a nem sík
felület¶ repedések analízisére is, ebben az esetben a (2.29) integrálegyenletben az
S c sík felületi
normálisa egy helyt®l függ® vektor lesz. Ezen integrálegyenlet megoldása globális közelít®
függ-vények segítségével viszont nem valószín¶, hogy jelent®sen el®nyösebb lenne a lokális közelítésen
alapuló megoldásokkal szemben, mivel az áramdipólus-s¶r¶ség függvényviselkedése nagyban függ
az
S c felületgörbültségét®l.Ezekalapjánreménytelennekt¶nik olyan egyszer¶közelít®függvények megtalálása, amelyekmindenféle görbültségesetén kedvez®tulajdonságokkalrendelkeznének.
Meg-jegyzem, hogy er®sen görbült felület¶ repedések esetében már maga a felületszer¶ repedés modell
használataismegkérd®jelezhet®, ígyilyenkor atérfogatimodellalkalmazásátélravezet®bbnek
tar-tom. A felületszer¶ repedés modelljének alkalmazását véleményem szerint sak akkor érdemes
meggondolni, ha a görbült felület jól közelíthet® egy-két egymással érintkez®, síkfelület¶ repedés
összegeként. E feladat megoldása során a 4.1. pontban tárgyalandó párhuzamos repedések
ana-lízisére kidolgozott módszer bemutatásakor leírt bizonyosmeggondolások hasznosak lehetnek.A
görbült felület¶repedésekanalízisének kérdésével azonban eddig mégnemfoglalkoztam.
3.2. Numerikus példák és az eredmények értékelése
3.2.1. A tesztfeladatok bemutatása
SzámosECTfeladat megoldásávalellen®riztemabemutatott számításieljárást.Azellen®rzéssorán
szerzett tapasztalatokat a továbbiakban nyol reprezentatív tesztfeladatmegoldásának
eredményé-veldemonstrálom.A bemutatott példákbanlemezalakú munkadarabbanlév®téglalap alakúEDM
repedés válaszjelének meghatározása a él. A mérésekhez egyszer¶ hengeres alakú tekerset
hasz-náltakvizsgálófejként.Avizsgálttesztfeladatokmindegyikénélmérésieredményisrendelkezésünkre
áll.
A vizsgált elrendezés a 3.1. ábrán látható (38. oldal), az egyes tesztfeladatokhoz tartozó
pa-ramétereket a 3.1. táblázat tartalmazza. A táblázatban található geometriára vonatkozó jelölések
jelentését a3.1. ábramagyarázza,
f
a tekerset gerjeszt® szinuszos áram frekveniáját jelöli. Elhe-lyezkedés szerint a repedéslehet olyan, amely a lemez tekers felöli (ID) vagy tekersel ellentétes(OD) oldalából indul ki, illetve a repedés áthatolhat a teljes lemezen (100%). Mindegyik
tesztfel-adatnálamért,illetve számítottECTválaszjelatekers impedaniájánakváltozásavolt. Atekers
a 8. tesztfeladat kivételével az
y
-tengely mentén mozog a lemez síkja felett (lásd 3.1. ábra), a 8.tesztfeladat esetében pedig a repedésre mer®legesen, az
x
-tengely mentén mozog a vizsgálófej. A válaszjelet,azaza vizsgálófejimpedaniájának arepedésjelenlétéb®ladódómegváltozását (2.33)atekersközéppontjának pozíiója függvényében adjukmeg.
Az1.tesztfeladatazún.TEAM Benhmark feladatokegyike,amelyhez tartozó mérési
eredmé-nyeketa[79℄irodalomtartalmazza. A2.-7.tesztfeladatokhozkapsolódóméréseketaJapan Soiety
of Applied Eletromagnetis and Mehanis (JSAEM) szervezet koordinálásával aNulear
Engine-eringLtd.(NEL)végezteJapánban.Ezentesztfeladatokleírásáta[80 ℄irodalomközli,ahola3.és7.
tesztfeladatokhoztartozó mérésieredmények ismegtalálhatók.A többiJSAEMtesztfeladatmérési
3.1.táblázat. A tesztfeladatok paraméterei(azelrendezést lásda 3.1. ábrán)
Tesztfeladat
sorszáma 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8.
elnevezése
TEAM JSAEM CEA
15#1 2-2 2-3 2-5 2-6 2-9 2-10 #1
Gerjesztés
f [
kHz] 0,9 150 300 150 150 150 300 500
Tekers
r 1 [
mm] 6,15 0,6 0,6 0,6 0,6 0,6 0,6 1,0
r 2 [
mm] 12,4 1,6 1,6 1,6 1,6 1,6 1,6 1,62
l [
mm] 6,15 0,8 0,8 0,8 0,8 0,8 0,8 2,0
h [
mm] 0,88 0,5 0,5 0,5 0,5 0,5 0,5 0,3
menetszám
3790 140 140 140 140 140 140 328
Lemez
d [
mm] 12,22 1,25 1,25 1,25 1,25 1,25 1,25 1,55
σ [
MS/m] 30,6 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,02
Repedés
b [
mm] 12,6 10,0 10,0 10,0 10,0 10,0 10,0 4,0
a [
mm] 5,0 0,5 0,5 0,75 0,75 1,25 1,25 0,61
vastagság
[
mm] 0,28 0,21 0,21 0,21 0,21 0,21 0,21 0,11
elhelyezkedés ID OD ID ID OD 100% 100% ID
eredményeit kérésrea JSAEM bosátja rendelkezésre az érdekl®d®k számára. A 8. tesztfeladathoz
tartozó munkadarablegyártását és az ECT mérést a CEA-ban végezték el, az értekezésben közölt
mérési eredményeket közvetlenüla CEA-tól kaptam.
3.2.2. A tesztfeladatok megoldásának eredményei
Afelületszer¶repedésrevonatkozóintegrálegyenlet(3.1)megoldásakéntkapottáramdipólus-s¶r¶ség
függvényviselkedéséta3.3.és3.4.ábrákonszemléltetem.Ezekena4.és5.tesztfeladatokesetében,a
vizsgálófej
y = 0
(afejközéppontjaarepedésközéppontjafelettvan)ésy = 5
mm(afejközéppontja a repedés széle fölött van) pozíióiban látható azE x i (y, z)
beiktatott tér és ap(y, z)
áramdipólus-s¶r¶ségx
-irányú rendez®inek abszolút értéke. A beiktatott teret az általam kidolgozott módszer [153℄ segítségével számítottam ki. Az ábrák alapján megállapítható, hogy a megoldásként kapottáramdipólus-s¶r¶ségfüggvénymenetehasonlítabeiktatotttérhez,akülönbségokaaz,hogya
p(y, z)
függvénynek ki kell elégíteniea rá vonatkozó (2.26) és(2.27) feltételeketa repedés peremén. Ez az
oka annak is, hogy az ID (4. tesztfeladat) és OD (5. tesztfeladat) repedések esetében lényegileg
különböz® az áramdipólus-s¶r¶ség függvény még akkor is, ha a beiktatott tér mindkét esetben
hasonló jelleg¶.
A 3.5. ábrán a tesztfeladatok megoldásaként kapott impedania-változás látható a vizsgálófej
középpontjának a pásztázás során felvett pozíióinak függvényében. A görbékr®l leolvashatók
a mért,valamint a globálisközelítés segítségévelszámított válaszjelek. Az 1.-3.és8.tesztfeladatok
esetébenaszakaszonkéntlineárisközelítéssegítségévelszámítotteredményislátható.Akét
különbö-z® közelítés felhasználásávalkapott számításieredmények gyakran annyiraközel esnekegymáshoz,
hogy ezekgörbéit nehézmegkülönböztetni az ábrákon.
−0.6 −0.4 −0.2 0
3.3.ábra. Abeiktatotttér ésazáramdipólus-s¶r¶ség abszolútértékea repedésfelületén a 4.
tesztfeladatesetében,amikor a vizsgálófejközepe az
x = 0, y = 0
,valamint azx = 0, y = 5
mm3.4. ábra. Abeiktatotttérésa áramdipólus-s¶r¶ség abszolútértéke arepedés felületéna 5.
tesztfeladatesetében,amikor a vizsgálófejközepe az
x = 0, y = 0
,valamint azx = 0, y = 5
mmpozíiókban vannak
0 5 10 15 20 25
3.5. ábra.A tesztfeladatok eredményei. Globálisközelítés valós ()ésképzetes(- - -)rész,
szakaszonként lineárisközelítés valós (
− · −·
) ésképzetes(· · · )
rész,mérési eredményvalós(◦
) ésképzetes(
×
) rész3.2.3. A globális és a szakaszonkénti lineáris közelítéssel kapott eredmények
összevetése
A tesztfeladatok megoldásának eredményeitértékelve akövetkez®ket állapíthatjukmeg. A globális
ésszakaszonkéntlineárisközelítésselszámítotteredményeknumerikusannagyonközelesnek
egymás-hoz,ígya pontosságszempontjábólninsakétmódszerközött számottev®különbség. Lényegesnek
tekinthet®ezzelszembenadiszkretizáióhozhasználtismeretlenekszámábanmutatkozókülönbség.
tekinthet®ezzelszembenadiszkretizáióhozhasználtismeretlenekszámábanmutatkozókülönbség.